MiniTest1100/MiniTest2100涂层测厚仪
更新时间：2024-09-10
MiniTest1100/MiniTest2100涂层测厚仪介绍：用于所有非铁磁性金属上的各种绝缘涂层。可配10多种不同用户和量程的智能探头，量程0.1μm～100mm。
德国EPK涂层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100特点
（德国EPK）MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机，各自具有不同的数据处理功能；
所有型号均可配所有探头；
可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机；
可使用一片或二片标准箔校准。
（德国EPK）MiniTest1100/2100/3100/4100新型适用于铁磁性或有色金属的两用探头，99个校准校准记忆，存储500组10000个数值，多种统计数据处理方式，声音超限报警，背光显示，RS-232接口，可接计算机和打印机.
德国EPK涂层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100技术参数：
| 型号 | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 |
| MINITEST 存储的数据量 | ||||
| 应用行数（根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数） | 1 | 1 | 10 | 99 |
| 每个应用行下的组（BATCH）数（对组内数据自动统计，可设宽容度极限值） | - | 1 | 10 | 99 |
| 可用各自的日期和时间标识特性的组数 | - | 1 | 500 | 500 |
| 数据总量 | 1 | 10000 | 10000 | 10000 |
| MINITEST统计计算功能 | ||||
| 读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar | - | √ | √ | √ |
| 读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | - | - | √ | √ |
| 组统计值六种x,s,n,max,min,kvar | - | - | √ | √ |
| 组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | - | - | √ | √ |
| 存储显示每一个应用行下的所有组内数据 | - | - | - | √ |
| 分组打印以上显示和存储的数据和统计值 | - | - | √ | √ |
| 显示并打印测量值、打印的日期和时间 | - | √ | √ | √ |
| 其他功能 | ||||
| 透过涂层进行校准（CTC） | - | √ | √ | √ |
| 在粗糙表面上作平均零校准 | √ | √ | √ | √ |
| 利用计算机进行基础校准 | √ | √ | √ | √ |
| 补偿一个常数（Offset） | - | - | √ | √ |
| 外设的读值传输存储功能 | - | √ | √ | √ |
| 保护并锁定校准设置 | √ | √ | √ | √ |
| 换电池是存储数值 | √ | √ | √ | √ |
| 设置极限值 | - | - | √ | √ |
| 公英制转换 | √ | √ | √ | √ |
| 连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别zui大zui小值 | - | - | √ | √ |
| 连续测量模式中测量稳定后显示读数 | - | - | √ | √ |
| 浮点和定点方式数据传送 | √ | √ | √ | √ |
| 组内单值延迟显示 | - | √ | √ | √ |
| 连续测量模式中显示zui小值 | √ | √ | √ | √ |
所有探头都可配合任一主机使用。在选择zui适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能
探头 量程 低端
分辨率误差 半径（凸/凹） zui小测量
区域直径zui小基
体厚度探头尺寸 磁
感
应
法 < F05 0-500μm 0.1μm ±（1%±0.7μm） 3mm 0.2mm φ15x62mm F1.6 0-1600μm 0.1μm ±（1%±1μm） 5mm 0.5mm φ15x62mm F1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±（1%±1μm） 5mm 0.5mm φ8x170mm F3 0-3000μm 0.2μm ±（1%±1μm） 5mm 0.5mm φ15x62mm F10 0-10mm 5μm ±（1%±10μm） 20mm 1mm φ25x46mm F20 0-20mm 10μm ±（1%±10μm） 40mm 2mm φ40x66mm F50 0-50mm 10μm ±（3%±50μm） 300mm 2mm φ45x70mm 两
用
FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±（1%±1μm） 1.5/10mm 5mm F0.5mm
N50μmφ15x62mm FN1.6P 0-1600μm 0.1μm ±（1%±1μm） 30mm F0.5mm
N50μmφ21x89mm FN2 0-2000μm 0.2μm ±（1%±1μm） 5mm F0.5mm
N50μmφ15x62mm 电
涡
流
法 N02 0-200μm 0.1μm ±（1%±0.5μm） 2mm 50μm φ16x70mm N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±（1%±1μm） 2mm 100μm φ15x62mm N1.6 0-1600μm 0.1μm ±（1%±1μm） 2mm 50μm φ15x62mm N1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±（1%±1μm） 5mm 50μm φ13x170mm N10 0-10mm 10μm ±（1%±25μm） 50mm 50μm φ60x50mm N20 0-20mm 10μm ±（1%±50μm） 70mm 50μm φ65x75mm N100 0-100mm 100μm ±（1%±0.3mm） 200mm 50μm φ126x155mm CN02 10-200μm 0.2μm ±（1%±1μm） 7mm 无限制 φ17x80mm
注： F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头，用于管内测量。
N.08Cr适合铜上铬，FN2也适合铜上铬。
CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。
探头图示
FN1.6
0～1600μm,φ5mm
两用测头，可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的绝缘覆层
量程低端分辨率很高（0.1μm）
FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
两用测头， 特别适合测粉末状的覆层厚度
F05
0～500μm,φ3mm
磁性测头，适于测量细小钢铁物体的薄覆层，如金属镀层，氧化层等
量程低端分辨宰很高（0.1μm）
F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性测头
量程低端分辨率很高（0.1μm）
F3
0～3000μm,φ5mm
磁性测头
可用于较厚的覆层
F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性测头
尤其适合于在管内壁测量
量程低端分辨率很高（0.1μm）
F10
0～10mm,φ20mm
适合测量钢结构（如水箱、管道等）上的防腐覆层，如玻璃、塑胶、混凝土等
F20
0～20mm,φ40mm
适合测量钢结构（如水箱、管道等）上的防腐覆层，如玻璃、塑胶、混凝土等
F50
0～50mm,φ300mm
适合测量钢结构（如水箱、管道等）上的防腐覆层的隔音覆层
N02
0～200μm,φ2mm
非磁性测头，尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高（0.1μm）
N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄镀铬层
N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性测头，适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高（0.1μm）
N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性测头，适于测量较薄的绝缘覆层
尤其适合在管内壁测量
量程低端分辨率很高（0.1μm）
N10
0～10mm,φ50mm
非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等
N20
0～20mm,φ70mm
非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等
N100
0～100mm,200mm
非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等
CN02
10～200μm,φ7mm
用于测量绝缘材料上的有色金属覆层，如覆铜板
